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MDFluke 1630接地電阻鉗型測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：

MDFluke 1630接地電阻鉗型測(cè)試儀對(duì)于接地電阻測(cè)試場(chǎng)合，1621 是檢測(cè)可靠接地連接線路的*道防線。裝置采用多種基本的接地測(cè)試方法，其中包括三電壓降測(cè)試法及兩接地電阻測(cè)試法。它的尺寸輕巧方便，擁有結(jié)實(shí)的皮套以及清晰的寬大 LCD 顯示屏，使之成為大多數(shù)電氣接地工作場(chǎng)合的理想現(xiàn)場(chǎng)接地測(cè)試儀。

更新時(shí)間：2024-07-28

訪問(wèn)量：1215

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址：

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產(chǎn)品介紹：

量程

0.15 Ω 至 20 Ω

分辨率	0.01 Ω
顯示范圍	0 至 19.99 Ω

200 Ω

分辨率	0.1 Ω
顯示范圍	20 至 199.9 Ω

2 kΩ

分辨率	1 Ω
顯示范圍	200 至 1999 Ω

基本誤差

±（測(cè)量值的 6 % + 5 位數(shù)字）

操作誤差 IEC 61557

±（測(cè)量值的 18 % + 5 位數(shù)字）

注：

[1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。
如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于值，即會(huì)閃爍。
測(cè)量值不在的操作誤差范圍內(nèi)。

電氣技術(shù)指標(biāo)

大偏差：

E1 影響因素	位置
E1 偏差影響	0%
E2 影響因素	電壓
E2 偏差影響	0%
E3 影響因素	溫度 E3
E3 偏差影響	2.3 %
E4 影響因素	串行干擾電壓（20 V）
E4 偏差影響	0.6 %
E5 影響因素	探針和輔助探針電阻
E5 偏差影響	10%

測(cè)試電壓

3.7 kV

保護(hù)等級(jí)

IP 40；IEC/EN 60529

電磁兼容性

	輻射：EC/EN 61326，B 類
	抗擾：IEC/EN 61326，附錄 C

R_E 電阻測(cè)量

測(cè)量方法	使用改進(jìn)的串?dāng)_衰減方法進(jìn)行電流-電壓測(cè)量，無(wú)需補(bǔ)償導(dǎo)線電阻測(cè)量，使用探針（三）或不使用探針（兩），符合 IEC/EN 61557-5 標(biāo)準(zhǔn)
開(kāi)放電路電壓	23 至 24 V ac
短路電流	> 50 mA ac
測(cè)量頻率	128 Hz
大許可過(guò)載	250 Veff

測(cè)量時(shí)間

8 秒（從按“開(kāi)始”起計(jì)算的平均值）

限制輸入

即使測(cè)試儀關(guān)閉，仍會(huì)保留設(shè)定值（如果電池電量充足）

自動(dòng)切換分辨率

R_H	< 7 kΩ
分辨率	0.01 Ω
R_H	< 50 kΩ
分辨率	0.1 Ω
R_H	> 50 kΩ
分辨率	1 Ω

干擾直流和交流電壓顯示

大電壓	30 Veff
共模抑制	> 80 dB，50 Hz 和 60 Hz
Ri	680 kΩ
測(cè)量誤差	對(duì)于純交流電和直流電信號(hào)，< 10 %

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